解决方案

激光光斑分析与光学测量系统


面向近红外(NIR)与短波红外(SWIR)激光应用,提供高分辨率实时成像系统。 核心能力与典型应用:

  • 高分辨率捕捉激光光束,实现光斑剖面分析
  • 实时光束跟踪与定位, 支持动态调整与对准
  • 协助光学组件对准与系统标定,优化光路性能
  • 覆盖近红外到短波红外波段,适用于科研实验、工业加工及光通信测试

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